半导体检测

半导体 MRAM 磁性薄膜检测方案

半导体磁性材料团队 2026年8月21日

针对 MRAM 与自旋电子材料，提供磁性薄膜磁学表征、批次对比与工艺反馈能力，服务研发与产线检测场景。

方案聚焦薄膜磁矩、磁畴与高频响应等关键指标，可与测控软件形成数据闭环，便于工艺迭代与质量追溯。

支持样品夹持、自动化流程与多工况对比测试需求。